| （1）、光度学、色度学和辐射度学测试技术研究 包括以下三个方面的研究： ① 功率LED光度参数测试技术研究 ② 功率LED色度参数测试技术研究 ③ 功率LED辐射度参数测试技术研究 （2）、热学（热阻）测试技术研究 研究LED芯片的热场分布特性、功率型LED的结温及散热能力的测试技术，为LED的封装结构设计、散热器的结构设计提供关键性的分析手段。包括以下两个方面的研究： ① 功率LED温度系数测试技术研究 ② 功率LED热学参数测量技术研究 （3）、功率LED器件长期可靠性研究 功率LED器件长期可靠性研究在各国的报道中均有区别，研究我国自主知识产权的功率LED器件长期可靠性试验方法，为企业提供可靠性设计数据，包括以下三个方面的研究： ① 功率LED预期寿命(加速试验)的试验技术研究 ② 功率LED机械强度和环境适应性试验技术研究 ③ 功率LED质量评定技术研究 （二）、半导体照明测试仪器和设备开发 （1）、半导体照明加速寿命试验关键设备研究 研究功率型照明LED的高温寿命加速试验方法，LED在各种电驱动条件下的高低温可靠性检测方法。研制适用于功率LED的加速寿命试验设备，通过加速寿命试验，快速评价照明用LED的期望寿命MTTF。 研究内容及主要指标： ① 开发研制具有国际先进水平的功率LED加速寿命试验设备。 ② 开展功率LED加速寿命试验专题研究，探讨LED的退化规律，加速因子τ和激活能AE，通过阿列尼斯方程外推LED的期望寿命MTTF。 （2）、半导体照明热阻测试设备开发 对半导体照明LED器件的热阻测试技术进行专题研究，开发出相关满足要求的热阻测试设备，解决LED器件的可靠性筛选问题，提高LED产品的可靠性。 研究内容：研究LED芯片的热场分布特性、功率型LED的结温及散热能力的测试方法及相应的检测设备，为LED的封装结构设计、散热器的结构设计提供关键性的分析手段。研究计算机程控数据采集和时序控制技术，并利用此技术实现LED热阻的自动测试和推算，提高精度和测试效率；研究被测LED的参考点温度的高精度测量和恒温控制技术。 热阻测试设备达到主要指标： ① 加热电流提供范围0～5A； ② 热敏参数测量范围0－5V，不确定度≤±(0.6%+3mV)； ③ 热阻测量不确定度≤±2%。 （三）、半导体照明测试和评价体系建设（含测试平台、检验认证中心等） （1）、半导体照明封装成品的测试和评价体系建设 按一般照明器件现有IEC和正在制定的国家标准的要求，根据照明用LED器件特殊的光学、色学、电气、温度等性能，针对照明LED器件的检测技术研究成果，建立相应的测试平台。主要有下列几方面： ① LED器件的光度、色度和温度性能、辐射安全的检测平台建设； ② LED器件的环境适应性试验平台建设； ③ LED器件的机械强度试验平台建设； ④ LED器件的寿命加速试验平台建设。 通过测试平台建设，为企业的产业化生产的封装成品进行公正、科学地参数检测和可靠性评价，确保企业进入市场的半导体照明产品质量可靠；为国家管理机关提供客观、公正的检测报告和质量可靠性信息。为标准体系的制定与完善提供服务，提升中国照明LED器件的研究、设计及应用水平。形成一批具有自主知识产权，适应国际市场规则的照明LED器件产品。达到能同时容纳10000只以上照明器件的检测能力；年检测能力达300
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